[发明专利]一种多晶硅的去除方法和清洗液、去除系统在审
申请号: | 202310315614.8 | 申请日: | 2023-03-28 |
公开(公告)号: | CN116313748A | 公开(公告)日: | 2023-06-23 |
发明(设计)人: | 刘赖生 | 申请(专利权)人: | 通威太阳能(眉山)有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/67;B08B3/08 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 唐正瑜 |
地址: | 620000 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: |
本申请公开了一种多晶硅的去除方法和清洗液、去除系统,属于太阳电池制备技术领域;方法包括:获取附着有多晶硅的待处理件;对待处理件的多晶硅进行第一反应处理,以使多晶硅转变为氧化硅;对待处理件的氧化硅进行第二反应处理,以使氧化硅转变为可溶的硅化物;把可溶的硅化物进行溶解,完成去除;其中,第一反应处理的药剂有效成分包括O |
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搜索关键词: | 一种 多晶 去除 方法 清洗 系统 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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