[发明专利]设备性能评估方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202310326818.1 | 申请日： | 2023-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN116302893A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 张涛;孙浩;韩英奇;贾梦磊 | 申请（专利权）人： | 中国工商银行股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张博 |
| 地址： | 100140 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种设备性能评估方法、装置、电子设备及存储介质，可以应用于人工智能、物联网技术领域。该方法包括：获取目标设备的多个参数信息，参数信息包括属性信息和状态信息；确定每个参数信息的信息类型；针对每个参数信息，利用与参数信息的信息类型相匹配的性能评估模式处理参数信息，得到性能评估值；基于多个性能评估值，确定用于表征目标设备的设备性能的综合评估值。 | ||
| 搜索关键词： | 设备 性能 评估 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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