[发明专利]一种对光模块进行自动老化测试的测试系统在审
| 申请号： | 202310355922.3 | 申请日： | 2023-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN116577576A | 公开（公告）日： | 2023-08-11 |
| 发明（设计）人： | 郭利伟;李江华;杜光云;李连城;魏志坚;过开甲;郑波 | 申请（专利权）人： | 深圳市迅特通信技术股份有限公司;江西迅特通信技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京易捷胜知识产权代理有限公司 11613 | 代理人： | 韩国胜 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区桃源街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种对光模块进行自动老化测试的测试系统，包括控制电脑、承载待测光模块的测试箱；控制电脑基于预先定义的老化测试配置信息，对测试箱内的待测光模块和测试箱进行控制，以使测试箱基于预设温度范围对待测光模块进行老化测试；所述测试箱包括测试主板；所述待测光模块进行分层放置且电连接测试主板，控制电脑通过测试主板控制每个待测光模块；所述测试箱的一侧面设置有用于对待测光模块进行散热且保持测试箱体内温度在预设范围内的散热结构。本发明能够提升光模块老化测试的测试效率和准确度，同时降低了人工干预的成本和风险。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 对光 模块 进行 自动 老化 测试 系统 | ||
【主权项】：
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