[发明专利]芯片验证方法、装置、系统、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202310396013.4 | 申请日： | 2023-04-14 |
| 公开（公告）号： | CN116136950B | 公开（公告）日： | 2023-06-30 |
| 发明（设计）人： | 李爽;张亚林 | 申请（专利权）人： | 北京燧原智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/33 | 分类号： | G06F30/33 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 骆文欣 |
| 地址： | 100191 北京市海淀区知春路23*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种芯片验证方法、装置、系统及存储介质。该方法包括：获取被测芯片的所有功能覆盖点中各功能覆盖点与输入激励之间的映射关系；基于映射关系、预先编写的测试用例模板和输入激励的约束文件，生成每个功能覆盖点各自对应的测试用例以及用于确定覆盖率的功能覆盖率代码；利用所有测试用例，对各功能覆盖点进行测试，并利用功能覆盖率代码实时确定功能覆盖率代码输出的覆盖率；实时检测覆盖率是否大于等于预设阈值，并在大于等于预设阈值的情况下，确定对所有功能覆盖点完成验证。本申请运行所有测试用例，即可覆盖所有的功能覆盖点，避免了重复抽取的情况，从而在提高验证效率的前提下，还能提高覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 验证 方法 装置 系统 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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