[发明专利]一种NSiV双色心的磁场与温度双参量测试方法及装置在审

专利信息
申请号: 202310401477.X 申请日: 2023-04-15
公开(公告)号: CN116500519A 公开(公告)日: 2023-07-28
发明(设计)人: 沈涛;袁悦 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: G01R33/032 分类号: G01R33/032;G01K11/32
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150080 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 本发明专利提供了一种NSiV双色心的磁场与温度双参量测试方法及装置,它包括光纤激光器(1)、磁场及温度测试装置(2)、光电转换模块(3)、ADC模块(4);微处理器(5)、计算机(6)。本发明专利采用倏逝场以及SPR原理提升传感器的灵敏度,通过金刚石NSiV双色心纳米材料涂覆MNF对磁场传感,PDMS涂覆镀金属银膜的单模光纤进行温度传感,光纤激光器输出的光使马赫曾德结构中发生干涉,基于SPR的单模光纤金属层的倏逝波与等离子体波发生共振。当磁场与温度变化时干涉光谱发生漂移,并定义平均波长漂移以及平均光强来判定光纤传感器的传感性能。由计算机处理得到传感器的灵敏度,实现对磁场的实时监测。有效解决了温度与磁场同时探测的问题。
搜索关键词: 一种 nsiv 色心 磁场 温度 参量 测试 方法 装置
【主权项】:
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