[发明专利]一种NSiV双色心的磁场与温度双参量测试方法及装置在审
申请号: | 202310401477.X | 申请日: | 2023-04-15 |
公开(公告)号: | CN116500519A | 公开(公告)日: | 2023-07-28 |
发明(设计)人: | 沈涛;袁悦 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨理工大学 |
主分类号: | G01R33/032 | 分类号: | G01R33/032;G01K11/32 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 150080 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: |
本发明专利提供了一种NSiV双色心的磁场与温度双参量测试方法及装置,它包括光纤激光器(1)、磁场及温度测试装置(2)、光电转换模块(3)、ADC模块(4);微处理器(5)、计算机(6)。本发明专利采用倏逝场以及SPR原理提升传感器的灵敏度,通过金刚石NSiV双色心纳米材料涂覆MNF对磁场传感,PDMS涂覆镀金属银膜的单模光纤进行温度传感,光纤激光器输出的光使马赫曾德结构中发生干涉,基于SPR的单模光纤金属层的倏逝波与等离子体波发生共振。当磁场与温度变化时干涉光谱发生漂移,并定义平均波长漂移 |
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搜索关键词: | 一种 nsiv 色心 磁场 温度 参量 测试 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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