[发明专利]一种材料内部荧光和衍射组合分析装置及分析方法在审
| 申请号： | 202310407957.7 | 申请日： | 2023-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN116359259A | 公开（公告）日： | 2023-06-30 |
| 发明（设计）人： | 秦岭;蔡吉庆;张鹏程;唐涛;马策 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院材料研究所 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046;G01N23/20;G01N23/20008;G01N23/20016;G01N23/207 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 王芳 |
| 地址： | 621700 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种材料内部荧光和衍射组合分析装置及分析方法，涉及无损检测技术领域，包括X射线光源、三维运动台、入射准直器、出射准直器、能量分辨探测器、探测器；三维运动台用于放置样品，X射线光源位于三维运动台的一侧，探测器位于三维运动台的另一侧，入射准直器设置在第一移动机构上，出射准直器和能量分辨探测器设置在第二移动机构上；当采用成像模式时，X射线光源发射X射线，通过探测器对样品进行CT扫描；当采用荧光模式和衍射模式时，入射准直器通过第一移动机构移动至X射线光源和三维运动台之间，出射准直器和能量分辨探测器能够通过第二移动机构移动。本发明能够实现材料内部的化学成分和晶体结构组合信息无损检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 材料 内部 荧光 衍射 组合分析 装置 分析 方法 | ||
【主权项】：
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