[发明专利]一种检测设备在审
申请号: | 202310419269.2 | 申请日: | 2023-04-19 |
公开(公告)号: | CN116399901A | 公开(公告)日: | 2023-07-07 |
发明(设计)人: | 希马尔·哈特里;崔永郁;张洪旺 | 申请(专利权)人: | 无锡帝科电子材料股份有限公司 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20;G01N27/00;B25B11/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 214000 江苏省无锡市宜*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及检测装置技术领域,具体涉及一种检测设备,包括操作台主体,所述操作台主体的顶部设置有限位机构,所述操作台主体的正面插拔有两组收纳抽屉,所述操作台主体的顶部固定连接有底座,所述底座底部的一侧设置有夹持机构;所述限位机构包括多组限位件,多组所述限位件均滑动连接在操作台主体的顶部,多组所述限位件延伸至操作台主体的内部通过连接杆进行连接,所述连接杆由多组第一调节杆拼接而成,且两组相邻的所述第一调节杆之间固定连接有限位环,本发明通过设计方便对不同尺寸大小的芯片封装材料进行限位导向,便于对多对个芯片封装材料进行快速推动检测,提高芯片封装材料的检测效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 检测 设备 | ||
【主权项】:
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