[发明专利]一种用于纳米孔的电流测量方法、装置、设备及介质在审
| 申请号： | 202310479537.X | 申请日： | 2023-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN116500327A | 公开（公告）日： | 2023-07-28 |
| 发明（设计）人： | 刘炬坪;周智 | 申请（专利权）人： | 深圳市梅丽纳米孔科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 李珂 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市坪山区坪山街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于纳米孔的电流测量方法、装置、计算机设备及存储介质，根据预置规则对及检测通道的数量对检测通道进行分组，得到多个检测通道组。且每一检测通道组均配置同一种协议，对现有的分组规则对检测通道进行分组后使用同一协议进行检测，使得每一检测通道组均可对纳米孔进行匹配检测，保证纳米孔检测数据的完整性以及准确性。根据用户采集需求信息及预置的通道采样频率确定每一检测通道组中各检测通道的测量时间信息，以得到与用户采集需求相对应的测量时间，可对现有检测通道处在不同时间区间的检测通道进行确定，合理分配采集时间，从而对纳米孔进行处理得到采集数据，大幅缩短的采集时间，提高了采集效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 纳米 电流 测量方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
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