[发明专利]测试设备、校准系统及校准方法在审
申请号: | 202310584647.2 | 申请日: | 2023-05-23 |
公开(公告)号: | CN116545549A | 公开(公告)日: | 2023-08-04 |
发明(设计)人: | 管玉静;李灿;徐云 | 申请(专利权)人: | 北京天地一格科技有限公司 |
主分类号: | H04B17/12 | 分类号: | H04B17/12;H04B17/21 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 杜杨 |
地址: | 100089 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请提供了一种测试设备、校准系统及校准方法,涉及天线领域。该设备包括电性连接的信号处理芯片及信号提供与处理单元,信号提供与处理单元与目标相控阵天线电性连接,信号提供与处理单元用于生成第一射频信号,并向目标相控阵天线输出第一射频信号;信号提供与处理单元还用于接收目标相控阵天线基于第一射频信号发送的第二射频信号,并将通过对第二射频信号进行处理得到的第三射频信号发送给信号处理芯片;信号处理芯片用于将第三射频信号转换为数字信号,并根据转换后的数字信号获得用于对目标相控阵天线进行校准的幅度和/或相位。如此,利用测试设备代替矢量网络分析仪,可大幅度降低成本,并且测试设备的响应速度快,可降低时间成本。 | ||
搜索关键词: | 测试 设备 校准 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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