[发明专利]一种永磁体表面凹凸缺陷检测系统及方法有效
| 申请号： | 202310600924.4 | 申请日： | 2023-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN116359230B | 公开（公告）日： | 2023-08-29 |
| 发明（设计）人： | 李国英;王彭;张邵玮;武思远 | 申请（专利权）人： | 北京博兴远志科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京纽乐康知识产权代理事务所(普通合伙) 11210 | 代理人： | 苏泳生 |
| 地址： | 102206 北京市昌平区回龙*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了永磁体表面凹凸缺陷检测系统及方法，包括用于发射多角度、多波段同轴光源的光源生成发射装置，光源生成发射装置包括壳体，壳体的一内侧面设有一个灯珠阵列，壳体的内腔中沿灯珠阵列的灯光发射方向依次设有多波段滤光片、菲涅尔透镜、分光片，分光片的上下两端分别设有第一出光口和第二出光口；光源生成发射装置电连接所述光源控制器，光源控制器电连接终端，第一出光口的上方设有带镜头的彩色面阵相机。本发明在基本不改变光源尺寸、不增加光源数量、不增加检测工位的情况下，通过生成的多角度、多波段同轴光源照射待测工具表面，并配合彩色面阵相机，利用不同的颜色来区分上凸缺陷和下凹缺陷，从而大幅降低检验成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 永磁体 表面 凹凸 缺陷 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
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