[发明专利]沟槽的填充方法在审

专利信息
申请号: 202310615676.0 申请日: 2023-05-26
公开(公告)号: CN116564986A 公开(公告)日: 2023-08-08
发明(设计)人: 李睿;曹志伟;张召 申请(专利权)人: 华虹半导体(无锡)有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H01L21/02
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 戴广志
地址: 214028 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请公开了一种沟槽的填充方法,包括:在第一外延层上形成硬掩模层,第一外延层形成于硅衬底上;在硬掩模层中形成第一沟槽,第一沟槽底部的第一外延层暴露;进行刻蚀,刻蚀至第一沟槽下方第一外延层中的预定深度,在第一外延层中形成第二沟槽,第二沟槽的深度和宽度的比值大于4;进行预处理以去除第二沟槽表面的杂质;通过采用纯硅源的外延沉积工艺在第二沟槽表面形成硅晶种层;通过底压外延沉积工艺形成第二外延层,第二外延层填充所述第二沟槽;去除第二沟槽外的硬掩模层和第二外延层。本申请先通过采用纯硅源的外延沉积工艺在沟槽表面形成硅晶种层,再通过底压外延沉积工艺形成第二外延层,降低了沟槽中填充的外延层产生缺陷的几率。
搜索关键词: 沟槽 填充 方法
【主权项】:
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