[发明专利]触控芯片的检测方法、装置和电子设备在审

专利信息
申请号: 202310628872.1 申请日: 2023-05-30
公开(公告)号: CN116660726A 公开(公告)日: 2023-08-29
发明(设计)人: 张健 申请(专利权)人: 维沃移动通信有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 乔珊珊
地址: 523863 *** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请公开了一种触控芯片的检测方法、装置和电子设备,属于电子技术领域。该触控芯片的检测方法包括:对触控芯片的目标接收通道进行内部互容采样,获得所述目标接收通道的第一采样数据,其中,所述内部互容采样为在目标过程中采集数据,所述目标过程为所述触控芯片的发射通道发射的信号通过所述触控芯片的内部电路传导,并由所述触控芯片的接收通道接收的过程,所述目标接收通道包括所述触控芯片的至少一个接收通道,所述第一采样数据用于指示所述目标接收通道的噪声特征;根据所述目标接收通道的第一采样数据,检测所述触控芯片是否存在异常。
搜索关键词: 芯片 检测 方法 装置 电子设备
【主权项】:
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