[发明专利]一种线圈匝数测量系统及方法在审
申请号: | 202310784594.9 | 申请日: | 2023-06-29 |
公开(公告)号: | CN116626407A | 公开(公告)日: | 2023-08-22 |
发明(设计)人: | 王忠远;刘占伟;李玉文;张青辉;张凤桐 | 申请(专利权)人: | 内蒙古电子信息职业技术学院;内蒙古呼和浩特市三维自动化技术应用研究所(普通合伙) |
主分类号: | G01R29/20 | 分类号: | G01R29/20 |
代理公司: | 西安汇恩知识产权代理事务所(普通合伙) 61244 | 代理人: | 张伟花 |
地址: | 010070 内蒙古*** | 国省代码: | 内蒙古;15 |
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摘要: | 本发明公开了一种线圈匝数测量系统及方法,该系统被配置包括:激励线圈,用于在激磁回路加载激励;多个标准匝数线圈,提供所需接入的不同标准匝数线圈组合,用于待测线圈匝数测量;磁臂,所述激励线圈被绕制于所述磁臂上,多个标准匝数线圈被分布于所述磁臂上且位于所述激励线圈外层;所述激励线圈上加载激励时所述磁臂上产生磁通,使标准匝数线圈和待测线圈上分别产生感应电压;开关,用于多个标准匝数线圈的被接入或被短接,及标准匝数线圈和待测线圈之间的连接;短接线;单片机。多个标准匝数线圈的配置,可以根据测量情况选择将一个、或两个及两个以上标准匝数线圈连接,以实现不同匝数线圈的测量,提高了线圈测量范围;且提高了测量精度,并非仅单一标准匝数线圈进行测量。 | ||
搜索关键词: | 一种 线圈 测量 系统 方法 | ||
【主权项】:
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