[实用新型]一种芯片测试用测试座

摘要

本实用新型公开了一种芯片测试用测试座，涉及芯片测试领域，包括主板和测试座，所述主板的表面开设有容槽，所述测试座置于容槽中，所述容槽内设置有与测试座底端对接的针脚，所述测试座上转动安装有封盖，所述封盖的底端开设有固定槽，所述测试座的表面设置有测试区，所述测试区与固定槽对应，所述固定槽内卡入有芯片，所述主板的一侧转动安装有总盖，主板与测试座为分离状态，主板上的针脚为测试座提供测试所需的电流以及控制信号，在对不同芯片进行测试的过程中，仅需更换与不同芯片相适配的测试座安装在主板上，即可对不同芯片进行测试，避免测试芯片时还需要更换主板，导致成本的极大提升。