[实用新型]一种LED半导体封装点胶检测装置有效
申请号: | 202320100091.0 | 申请日: | 2023-02-02 |
公开(公告)号: | CN219267608U | 公开(公告)日: | 2023-06-27 |
发明(设计)人: | 黎鹏;黄华龙 | 申请(专利权)人: | 深圳市正东明光电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/677 |
代理公司: | 北京和联顺知识产权代理有限公司 11621 | 代理人: | 袁江琴 |
地址: | 518111 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型涉及LED半导体技术领域,具体的是一种LED半导体封装点胶检测装置,本实用新型包括完成点胶后的LED半导体和用于对LED半导体进行输送的主传送带,所述主传送带的传送方向上设置有安装架,安装架内壁的一侧固定安装有用于对点胶数量进行检测的检测装置本体,所述主传送带的两侧分别设置有第一次级传送带和第二次级传送带,通过在安装架内部完成对LED半导体上点胶数量进行检测,配合电机的转动、电动伸缩杆和双向伸缩杆的伸缩,可以对点胶数量过多或者过少的LED半导体分别输送到不同传送带上进行分类,以及分别输送到不同加工环节,能够对点胶数量不合格的LED半导体根据点胶数量过多或过少分别进行回收处理。 | ||
搜索关键词: | 一种 led 半导体 装点 检测 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市正东明光电子有限公司,未经深圳市正东明光电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202320100091.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种导体带制带系统及汇流焊接机
- 下一篇:太阳能电池硅片扩散用带桨一体舟托
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造