[其他]开环(或半闭环)系统精度校正装置在审
| 申请号： | 85100125 | 申请日： | 1985-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN85100125A | 公开（公告）日： | 1986-07-30 |
| 发明（设计）人： | 韩至骏;梅建南 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G05D3/18 | 分类号： | G05D3/18 |
| 代理公司： | 清华大学专利事务所 | 代理人： | 付尚新 |
| 地址： | 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种开环(或半闭环)系统精度校正装置。可在不改变原系统控制逻辑电路的情况下，获得与测量元件分辨率同量级的精度。若与滚动光栅量测元件配合使用，误差将不因行程增加而积累。因此在大型机床上应用效果特别显著。本装置具有自动换向控制逻辑电路，可模拟原系统动态特性的模拟环节。数字脉冲比较环节，由进给指令自动产生校正脉冲的补扣环节以及专供开环系统高速运行时实现误差动态校正而不丢步的校正脉冲延时计数器。 | ||
| 搜索关键词： | 开环 闭环 系统 精度 校正 装置 | ||
【主权项】：
1、一种开环(或半闭环)系统精度校正装置，由实际位移量测环节，误差模拟环节、校正脉冲产生环节、误差比较环节、以及校正环节所组成。其特征在于：(1)带有不依赖原系统的简单方向控制电路的模拟环节[Ⅰ]。(2)保证步进电机在高速运行时进行动态精度校正而不丢步的校正脉冲延时计数器[Ⅴ]。(3)由进给指令自动产生校正脉冲的补扣环节[Ⅲ]代替了一般校正脉冲产生环节和专设的校正环节。
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