[其他]大同视场下的物像比对仪制造法无效

专利信息
申请号: 85100846 申请日: 1985-04-01
公开(公告)号: CN85100846A 公开(公告)日: 1986-07-09
发明(设计)人: 赵长安;张玉洁;苏尔古冷 申请(专利权)人: 内蒙古自治区刑事科学研究所
主分类号: G01B9/08 分类号: G01B9/08
代理公司: 内蒙专利服务中心 代理人: 李树基
地址: 内蒙古自治*** 国省代码: 内蒙古;15
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摘要: “大同视场下的物像比对仪制造法”是一种光学仪器制造法,主用于刑事技术检验,其特征是将一个普通平面镜和一个折光镜,相隔一定距离平行组合,构成反射透射联合光路系统,可实现在大视场下的同一视场中,对透过折光镜的一比对物实像和经平面镜折光镜作两次反射后的另一比对物虚像进行同位置并立比较。线条接合,特征重叠的比对检验。既能定性又能定量地鉴别同异和真伪,而且简便、准确、迅速。本装置也可用于其它领域比对检验。
搜索关键词: 大同 视场 物像 制造
【主权项】:
1、一种光学仪器的制造方法,其特征在于将一个平面镜和一个析光镜,相隔一定距离,平行竖直地固定放置在一个平台上,并与一个假想铅垂基准立面各以45°角单侧接交,所说平面镜可以对来自假想铅垂面一方的实物、物相或物迹的反射光进行反射,所说析光镜,既可以对上述平面镜反射来的实物、物相或物迹的虚像再反射,又可以对也来自假想铅垂面一方的要比对的物或物相之反射光作透射,而观察是在正对比对实物的析光镜的另一侧进行。
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