[其他]测量高反射率的方法和装置无效
| 申请号： | 85101719 | 申请日： | 1985-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN85101719A | 公开（公告）日： | 1986-08-13 |
| 发明（设计）人： | 王占青;陈奋飞;周秀良 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 中国科学院长春专利事务所 | 代理人： | 刘树清 |
| 地址： | 吉林省长*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明是在光谱光度计上加对称谐振腔多次反射装置测量镜面高反射率的方法和装置。对称谐振腔放在可定位转动180°的圆盘上，高反射率是通过公式求得。本方法对样品放置精度要求不高。测量高反射率最佳方案可采用对称双光路结构。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 反射率 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种测量高反射率的方法，是多次反射测量的方法，其特征在于多次反射测量方法采用对谐振腔多次反射结构α。
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