[其他]用反应气体淀积的材料制作半导体器件的方法及其设备无效
申请号: | 85102326 | 申请日: | 1985-04-01 |
公开(公告)号: | CN85102326B | 公开(公告)日: | 1988-09-14 |
发明(设计)人: | 西杰森;尤杰;范德普特尔 | 申请(专利权)人: | 菲利浦光灯制造公司 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205 |
代理公司: | 中国专利代理有限公司 | 代理人: | 吴秉芬,肖春京 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 用反应气体淀积的材料制作半导体器件的方法及其设备。依本法,把若干半导体材料基片放在炉管内安置的反应管内加热,在反应管壁上开有一些孔,反应气体经这些开孔流过,进行淀积半导体材料。为实现此法,在炉子管道内沿着反应管壁的外侧产生一个气体流,而且只有该气流的一部分经开孔通入反应器管道。使用此法防止在基片上淀积上在反应气体内可能形成的尺寸不同、成分不同的微粒。 | ||
搜索关键词: | 反应 气体 材料 制作 半导体器件 方法 及其 设备 | ||
【主权项】:
1.一种制作半导体器件的方法,在该方法中,一些半导体材料基片被放在一反应管中加热,该反应管被置于一炉管之中并具有一开有多孔的管壁,用以在基片上沉积一材料层的反应气体通过所说的开孔进入反应管中,该反应气体进入开孔的过程是通过在炉管中沿反应管的管壁的外侧产生一个空气流动来完成的,此后,反应后的剩余气体通过反应管的一个开口端排放出去。其特征在于,反应气流中只有一部分经反应管管壁上的开孔通入反应管达到基片上,反应气流的余下部分,即没有进入反应管的部分直接从炉管和反应管中间的空间排走。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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