[其他]综合老化台无效
| 申请号： | 85202316 | 申请日： | 1985-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN85202316U | 公开（公告）日： | 1986-05-07 |
| 发明（设计）人： | 屠锡余 | 申请（专利权）人： | 煤炭工业部煤炭科学研究院南京研究所 |
| 主分类号： | H05K5/00 | 分类号： | H05K5/00;H05K7/00;H01L21/70 |
| 代理公司： | 南京工学院专利事务所 | 代理人： | 姚建楠 |
| 地址： | 江苏省南*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型属于电子元器件的老化设备。本实用新型采用抽屉式积木结构将各功能箱与机柜组合在一起。老化箱与老化板之间采用活板结构。集成电路老化板上装有可更换的条件板，以便对各种集成电路进行老化。对正在老化的集成电路可同时进行检测(采用示波器加电流表同时观察输出波形和电流值)。适用于对各种电子元器件进行老化和寿命试验以及质量分析的场合。 | ||
| 搜索关键词： | 综合 老化 | ||
【主权项】：
1、一种综合老化台，由各功能箱(包括二端器件老化箱[3]、晶体管老化箱[2]、集成电路老化箱[4]、控制箱[1]、电源箱[5]、高温箱[6]和机柜[7])所组成。其特征在于所述的综合老化台。各功能箱与机柜之间采用抽屉式积木结构组合。各老化箱与老化板之间采用接插的活板结构组合。
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