[其他]高低温介电性能和电阻率测量用电极装置无效
| 申请号： | 85203393 | 申请日： | 1985-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN85203393U | 公开（公告）日： | 1986-05-07 |
| 发明（设计）人： | 刘尚琪;张贤;徐懋 | 申请（专利权）人： | 中国科学院化学研究所 |
| 主分类号： | G01R1/06 | 分类号： | G01R1/06 |
| 代理公司： | 中国科学院专利事务所 | 代理人： | 许淑芳 |
| 地址： | 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明是一种物理参数测量仪器的改进。本装置能与多种电桥或静电计配合，在-180℃到+250℃温度区内、在30Hz到100KHz的频率范围内和可控的气氛条件下进行介电常数、介电损耗和高电阻率的精密测量。它能有效地防止试样室温度变化和电磁感应对测量的干扰，制作又很方便。主要技术特征是采用金属结构的电极线引出器和密闭式的试样室套筒结构。这种引出器由紧接试样室(1)的热阻段(2)和装有电极装置出线端(4)的散热器形端块(3)构成。 | ||
| 搜索关键词： | 低温 性能 电阻率 测量 用电 装置 | ||
【主权项】：
1、一种高低温介电性能和电阻率测量用的电极装置，具有密闭式的试样套筒结构(图1)，其特征在于采用了金属的电极线引出器，该引出器是由紧接试样室(1)的传热较慢的细管状热阻段(2)和装有电极装置出线端(4)的具有较大热容量及良好传热性的散热器形端块(3)构成。
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