[其他]一种清纱器及纱疵仪的设计方法无效

专利信息
申请号: 86100541 申请日: 1986-03-05
公开(公告)号: CN86100541A 公开(公告)日: 1988-02-17
发明(设计)人: 成春生 申请(专利权)人: 成春生
主分类号: G01B7/00 分类号: G01B7/00;D01H13/14
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 江苏省丹*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种电子清纱器和纱疵分级仪的设计方法,其特点是各锭代替全体试样纱条平均粗度的设定电平V1,由各锭独自产生,且同步跟随各锭检测灵敏度K变化;提供了用连续的足够长度的纱条片段平均粗度代替全体纱条平均粗度对应于检测灵敏度的电平作为设定电平的方法,并推导出二种传感形式的理论设定精度;提出了根据迟缓试验理论用积分电路从各锭的符合V=K·S的最终电信号V中直接获得V1的方法,并给出了2个实施例。
搜索关键词: 一种 清纱器 纱疵仪 设计 方法
【主权项】:
1、一种电子清纱器及纱疵分级仪的设计方法,其特征是:无论是采用光电式还是电容式检测手段,各锭的检测放大单元,把通过检测头的试样纱条在长度方向各点的粗度S或纱疵增值粗度△S转换放大成最终电信号V,使V满足表达式V=K·S或V=K·△S,式中K为某锭的纱条长度方向各点的S或△S转换放大成最终电信号V的系数,用来表征该锭检测放大单元在某一时刻的灵敏度,允许各锭的K值互不相等,允许某一锭的K值在长期运行中发生变异,K值的变化范围以最终电信号V的幅值满足电路测量为原则,同时各锭独立产生代替全体纱条平均粗度S’的设定电平V1,使V1=K·S’,参照国家标准或工艺要求,以及选择的电路程式使V满足的表达式,恰当选择增益,各锭按照乘法原则以各自的V1为基准,以选择的同样增益建立一个或一组纱疵设定电平,同最终电信号V进行电平比较,完成纱疵粗度的判别或状态描述,同时把纱疵的计算长度(在采用纱疵的粗度和长度乘积超过规定即以切除的程式时)或实际长度(在按照国家标准的纱疵有效长度的规定时)转换成等效长度的脉冲。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成春生,未经成春生许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/86100541/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top