[其他]参比式高分辨率多用激光光学分析仪

摘要

本发明通过参比光路光强I.、正交偏光光强I或平行偏光光强I‖提出了新的计算光程差的公式，并发明了新的测试方法。本发明所提供的设备把双折射和吸光度等物理光学参数的测量小至50μm微区。本发明又是一台光学显微镜，不仅可以对材料微区的各向异性和吸光度进行定量分析、描绘等色线、等倾线和等吸光度线，分析其结构形貌，进行小角激光光散射实验，还可对薄而透明的试样及厚度大透光度差的试样进行测试。可应用于医学、高分子，矿物晶体和光测弹性力学等领域。

主权项

1、1984年，美国光学学会杂志《应用光学》(APPLIEDOPTICS/Vo123No21/1Novenmber1984)谈到一种被认为是先进的双折射测量方法及其仪器，其方法是先测出激光的垂直偏振光强Ⅰ⊥，再测出激光的平行偏振光强Ⅰ11，按下公式求出被测物的光程差R来：|R|=Nπ+2Tan-1I┴/I11N=0,2,4,……（1）｜R|=(N+1)π-2Tan-1I┴/I11N=1,3,5,……（2）其结构是：一个光电转换器、一个激光光源、起偏镜、检偏镜、显示器及记录装置。本发明在方法上的特征是，为消除系统中各不稳定因素带来的误差，引入参比计算方法计算光程差，为测量微区(直径为微米数量级的区域)光程差引入光强法分辨率法，并由此引入跟踪法确定各点主应力方向、等倾线、等色线和程差级序。