[其他]铁电体电滞回线计算机测试技术方案无效
申请号: | 86107714 | 申请日: | 1986-11-13 |
公开(公告)号: | CN86107714A | 公开(公告)日: | 1988-05-25 |
发明(设计)人: | 何忠亮;姚熹 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 西安交通大学专利事务所 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 陕西省*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 一种改进的铁电体电滞回线计算机测试技术方案,采用Sawyer-Tower电路,利用“二分法”,通过编制计算机程序把被测试样中线性电容和损耗电阻的影响逐次自动消除,从而测得校正后的电滞回线。与现有电桥电路的校正方法相比,不需在高电压下靠手工多次反复操作,在超低频测试时能节省时间,并且免除了操作者主观因素的影响,提高了测试精度和达到安全目的。 | ||
搜索关键词: | 铁电体 电滞回线 计算机 测试 技术 方案 | ||
【主权项】:
1、一种铁电体电滞回线计算机测试技术方案,采用Sawyer-Tower电路,利用微计算机进行数据采集、存贮和控制等工作,本发明的特征是:用微计算机[4]产生所需测试电压波形的数字信号,经D/A转换器[5]和高压放大器[6]后得到所需测试电压U,这测试电压U加在Sawyer-Tower电路[7],从Sawyer-Tower电路[7]输出信号经高输入阻抗放大器[13]后,由A/D转换器[14]送入微计算机[4];采用“二分法”,通过编制计算机程序,把Sawyer-Tower电路[7]输出信号中试样[8]的线性电容Cxi[11]和损耗电阻Rx[12]的影响逐次加以消除;微计算机[4]根据这已消除掉线性电容Cxi[11]和损耗电阻Rx[12]的影响后的信号和加于试样[8]的测试电压U,控制绘图机[15]作出校正后的电滞回线。
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