[其他]测试生长法

摘要

一种用以提供适用于测试超大规模集成电路器件的测试向量方法，包括测量可测试性的步骤，它应用测试计数过程以提供多个测试计数矩阵。然后从输入端处开始通过电路前向地和后向地驱动各自的敏感值，来枚举敏感值，直到累积到所需测试计数为止。枚举法规定的测试向量能测试实际的电路。如果电路包括再汇聚扇出回路，则这些回路在随后的全局枚举期间首先被枚举以提供所采用的部分解答。

主权项

1、一种用于测试一个集成电路网络的一组测试向量的确定方法，所说集成电路网络包括多个门电路，门电路被互连在包括所说集成电路网络的输入和输端的节点处，这种方法用以揭露所说网络中的预定种类的故障，其特征在于下列步骤：根据一种测试计数过程测量所说集成电路网络的可测试性，这个过程包括通过该网络的介入门电路从输入端前向至主输出端又后向返回到所说输入端的敏感测试计数的传输，以便为包括所说输入和输出端的所说网络节点提供测试计数矩阵，通过连续多次从所说输入端处的测试计数矩阵前向驱动各个敏感值至一所说输出端又后向返回到所说输入端，从所说矩阵枚举测试计数，以便在所说节点累积为所说矩阵所叙述的测试计数，以及分开存储一组敏感值，所说输入端每一次都被驱动到这些敏感值，各组都包括所说网络的测试向量。