[其他]半导体整流器件动态质量分选装置无效
| 申请号： | 87209491 | 申请日： | 1987-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN87209491U | 公开（公告）日： | 1988-05-11 |
| 发明（设计）人： | 赵富;李曾锡;葛淑欣;霍一平 | 申请（专利权）人： | 石家庄市自动化所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 河北省专利事务所 | 代理人： | 王苑祥 |
| 地址： | 河北省石*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体整流器件动态质量分选装置，它包括被测件的预热装置，标况工况建立部分，分选机构，其根据动态反向平均电流以环境温度Ta及检测动态反向平均电流依据，实现多级检测分析，配合一级复检装置。它可以保证上机合格率，极有利于生产厂和使用厂进行质量控制。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 整流 器件 动态 质量 分选 装置 | ||
【主权项】：
1、一种半导体整流器件动态质量分选装置，其特征在于该装置包括根据最高环境温度Tam设定的预热器(A1)标准工况设定部分(A2)，动态参数提取电路(A3)，微机管理系统(C)及机械分选配套机构(A4)。
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