[发明专利]用等离子体加强氧化硅淀积作用的方法无效
申请号: | 88104436.9 | 申请日: | 1988-07-15 |
公开(公告)号: | CN1030616A | 公开(公告)日: | 1989-01-25 |
发明(设计)人: | 约翰·T·费尔斯;尤金·S·洛帕塔 | 申请(专利权)人: | 美国BOC集团有限公司 |
主分类号: | C23C16/40 | 分类号: | C23C16/40;C23C16/50;C23C16/52 |
代理公司: | 中国专利代理有限公司 | 代理人: | 何耀煌,肖掬昌 |
地址: | 美国新*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 用等离子体加强氧化硅淀积作用的方法包括提供至少含有汽化的有机硅化合物,氧和惰性气体的气流;在预先抽空的反应室中产生来源于该气流的等离子体,将基片可移动地置于其中;淀积时,用非平衡磁控管约束基片附近的等离子体,以提高离子流量;使气流可控地流入等离子体中。该方法以商业上可行的淀积速率,在小的和大的基片上可重复地淀积粘附的、硬质的和基本上无机的氧化硅基薄膜,该薄膜以高质量的交键连接为特征。 | ||
搜索关键词: | 等离子体 加强 氧化 硅淀积 作用 方法 | ||
【主权项】:
1、一种淀积附着的氧化硅基薄膜的方法,其特征在于包括:提供一种含有汽化的有机硅化合物,氧气和惰性气体的气流,在预先抽空的反应室中产生来源于所述气流的辉光放电等离子体,该反应室含有在等离子体中可移动位置的基片,以及将所述气流注入等离子体中,以便在位于该等离子体中适当位置的基片上淀积氧化硅,所淀积的氧化硅是所述气流的反应产物,在淀积过程中,所述反应室保持低于大约100微米的压强。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
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