[发明专利]砷化镓/磷化铟异质气相外延技术在审

专利信息
申请号: 89102308.9 申请日: 1989-04-14
公开(公告)号: CN1040401A 公开(公告)日: 1990-03-14
发明(设计)人: 张国义;刘式墉 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: C30B29/42 分类号: C30B29/42;C30B25/02;H01L21/205
代理公司: 吉林大学专利事务所 代理人: 崔丽娟
地址: 吉林省*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明为一种在InP衬底上生长GaAs单晶薄膜的氯化物VPE技术。通过对衬底非生长区域的介质膜保护,分步预热与低温快速生长,抑制了InP衬底的热损伤。对衬底温度与载气H2流量耦合调制,形成多界面应力释放层,使3.7%的晶格失配应力引起的斜位错终止于界面,降低外延层的位错密度,提高晶体质量。其优点是设备简单、操作方便,GaAs外延层具有良好的结晶学特性、电学特性与光谱学特性。
搜索关键词: 砷化镓 磷化 铟异质气相 外延 技术
【主权项】:
1、一种应用氯化物VPE设备,在InP衬底上生长GaAs单晶薄膜的VPE技术,其特征在于采用分步预热法和衬底温度与载气H2流量耦合调制法在InP衬底上生长GaAs单晶薄膜。
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