[发明专利]磁光电流角度比较方法及其装置无效
申请号: | 91100372.X | 申请日: | 1991-01-18 |
公开(公告)号: | CN1026359C | 公开(公告)日: | 1994-10-26 |
发明(设计)人: | 张志鹏 | 申请(专利权)人: | 华中理工大学 |
主分类号: | G01R19/00 | 分类号: | G01R19/00;G01R15/07;G01R33/032 |
代理公司: | 华中理工大学专利事务所 | 代理人: | 骆如碧,朱雪忠 |
地址: | 430000 *** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明属电工仪表类,特别适用于大电流工业测量场合。该方法是利用磁光效应使光偏振面在置于磁场中的探头中产生旋转,产生一个旋转角θ,通过探测器,功率放大器及信号处理系统或微机系统,建立探头出射光强与θ的特性曲线,确定与曲线最低点相对应的比较绕组的安匝数即为被测电流值。与上述方法相应的磁光电流角度比较仪中的探头,由聚焦镜、敏感元件和OE双输棱镜构成。 | ||
搜索关键词: | 电流 角度 比较 方法 及其 装置 | ||
【主权项】:
1、一种磁光电流角度比较方法,它利用比较绕组(9)中的电流跟踪被测电流,使比较绕组电流磁场产生的偏振面旋转角θ比与被测电流磁场产生的偏振面旋转角θ被方向相反,大小相等形成零磁通时被测电流值为比较绕组的安匝数即i=WI比,式中I比为每匝线圈的电流,W为比较绕组的匝数,为此,本方法的具体措施为采用开口铁芯,在开口处的空气间隙中设置探头(8),(8)的形状视应用场合而定,可采用圆形、正方形或长方形,探头(8)的入射端直接偶合或通过光纤(3)与光源(2)联接,出射端直接偶合或通过光纤(10)与探测器(11)、(12)联接,检偏器(18)采用OE双输棱镜,探测器(11)、(12)各自检测的是来自检偏器(18)的相互正交的OE光束,使O光E光的光强相等,在探测器(11)、(12)中一个带有功率放大器(13),只需简单调节就能获得二光束相等,根据马吕斯定律,从检偏器(18)出来的光强I=IOcos2θ,式中IO为起偏器(15)出射光强,I为偏振面旋转θ角后检偏器(18)的出射光强,测量过程采用信号处理电路(13)或微机系统控制可控电流源(6)即可控制比较绕组(9)的电流,控制比较绕组电流值及由它产生的偏振面旋转角θ比,跟踪并抵消被测电流产生的偏振面旋转角θ被,当比较绕组的安匝数与被测电流值相等时,光强出现零值,即θ与cos2θ特性曲线最低值相对应的θ值。
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