[发明专利]一种发射率现场测量的方法

摘要

本发明提供了一种发射率现场测量的新方法。它是把经过调制的一定波长的辐射光束人射到被测物表面，采用相毓检波方法处理信号的辐射计接收被反射的调制辐射，再与发射率参考板的信号进行比较和运算，得到被测物的发射率。因辐射计对环境辐射和被测物的自身辐射完全不响应，故这种方法可在任何复杂的辐射环境下工作，也可对任何温度的物体进行发射率测量。通过控制人射辐射的光谱成分及辐射计的光谱响应，还可测量各种光谱及光谱范围的发射率。

主权项

1、一种发射率现场测量的方法，其中包括：1.1、将主动光源置于距被测物/参考板表面的一定距离上，把辐射计放置在能接收到被反射的主动光源辐射的位置上，并固定主动光源与辐射计、被测物/参考板三者之间的相对位置；1.2、主动光源产生一束辐射波长为入的辐射，入射到被测物表面上，辐射计接收被反射的主动光源辐射，这时辐射计输出为V11.3、用参考板在同一位置代替被测物；这时辐射计输出为Vs；1.4、计算被测物的发射率，因为V/Vs＝ρd/ρd6＝(1-εd)/(1-εd6)。则被测物体的发射率为；δd＝1-(V/V4)(1-εd6)式中，ρd为被测物体的反射率，ρd6为参考板的反射率。εd为被测物体的发射率，εd6为参考板的发射率；其特征在于：1.5、对主动光源辐射进行调制。并给出同步信号；1.6、同步信号用于相敏检波，使辐射计只响应被反射的调制辐射。