[发明专利]光谱分析方法和系统无效

专利信息
申请号: 92102131.3 申请日: 1992-03-21
公开(公告)号: CN1077288C 公开(公告)日: 2002-01-02
发明(设计)人: 福井勲;今村直树;深山隆男 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N21/67 分类号: G01N21/67;G01N21/63;G01J3/36
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 竹民
地址: 日本京都*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种利用光谱分析,对样品中依组分状态而分类的各组分进行定量分析,其步骤如下,多次激励样品,使之辐射,检测每次辐射中样品的组分元素和非组分元素的谱线光强度数据,存储谱线的光强度数据,依据存储的数据,认定组分元素和非组分元素含量在预定含量之上的辐射,确定在样品上对应于认定的辐射的区域中存在组分元素和非组分元素的复合物。$#!
搜索关键词: 光谱分析 方法 系统
【主权项】:
1.一种光谱分析方法,其特征在于,它包括下列步骤:多次激励一个样品,以形成辐射;在每次辐射中,测定所述样品的组分元素和非组分元素的谱线的光强度数据;存储测到的该谱线的光强度数据;根据存储的所述数据,认定含有预定含量以上的所述组分元素和非组分元素的辐射;确定在样品上对应于上述被认定的辐射的区域中存在组分元素和非组分元素的复合物。
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