[发明专利]半导体光敏管动态特性测试方法无效
| 申请号： | 93104704.8 | 申请日： | 1993-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN1030547C | 公开（公告）日： | 1995-12-20 |
| 发明（设计）人： | 安毓英;胡波;李晓春 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 陕西电子工业专利事务所 | 代理人： | 王品华 |
| 地址： | 710071*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明属电子技术领域，特别是涉及半导体光敏管的动态伏安特性、光电特性的测试方法。本发明利用发光二极管产生线性扫描光强与均匀递增阶梯光强，通过解决光功率信号的动态扫描控制及定标技术，从而实现半导体光敏管动态特性的快速、直观的定量测试，可以给出光敏管完整的伏安特性及光电特性曲线，所给的曲线可以反映出采用静态测试方法而不能发现的半导体光敏管的一些交流特性参数。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 光敏 动态 特性 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于定量测试半导体光敏管动态特性的方法，包括扫描电压、阶梯电压的产生及控制技术，其特征在于：a.利用扫描电压及同步信号产生电路、扫描电压控制及输出电路、阶梯信号产生电路、扫描光强产生电路、阶梯光强产生电路与发光二极管连接产生线性扫描光强及均匀递增的阶梯光强；b.在扫描电流激励的条件下，利用光功率计或光电转换器件与示波器对扫描光强进行定标；c.在单脉冲触发条件下，利用光功率计对阶梯光强进行定标。
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