[发明专利]调制器测试系统在审
| 申请号： | 93109005.9 | 申请日： | 1993-07-21 |
| 公开（公告）号： | CN1083291A | 公开（公告）日： | 1994-03-02 |
| 发明（设计）人： | 戴尔E·古利克;斋藤信;J·W·彼得逊;野垣胜;饭村年昭 | 申请（专利权）人： | 先进显微设备股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00;H04B1/00 |
| 代理公司： | 上海专利事务所 | 代理人： | 竹民 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明揭示了一种对采用带有调制器和集成电路系统进行整体测试的系统。所述测试系统包括使调制器连续发送数据的结构和使连续发送的数据呈现极度频率偏移的结构。上述两种结构均可以是一个单寄存器。所述寄存器可包括一组可被置位用来选择一种连续或交替方式亦即选择最大或最小峰值频率偏移的二进制位。 | ||
| 搜索关键词： | 调制器 测试 系统 | ||
【主权项】：
1、一种对采用带有调制器的集成电路系统进行整体测试的系统，其特征在于，所述系统包括：使所述调制器连续发送数据的装置和使所述连续发送的数据呈现极度峰值频率偏移的装置。
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