[发明专利]分束干涉型光学间隔测量中干涉条纹级次的一种识别方法无效
| 申请号： | 93111998.7 | 申请日： | 1993-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN1102254A | 公开（公告）日： | 1995-05-03 |
| 发明（设计）人： | 叶玉堂;刘永智;刘旭;毛清明;吴金谦 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 电子科技大学专利事务所 | 代理人： | 黄竞跃 |
| 地址： | 610054 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了分束干涉型光学间隔测量中干涉条纹级次的一种识别方法，属光学测量领域。主要解决测量中nd范围较大时，零级和±1级用强度识别可能导致的误判问题。本方法利用干涉条纹中彩条关于零级条纹的对称性将强度识别改为色彩识别，从而避免了级次误判，大大提高测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 干涉 光学 间隔 测量 条纹 级次 一种 识别 方法 | ||
【主权项】：
1、分束干涉型光学间隔测量中干涉条纹级次的一种识别方法，它包括下列步骤：(1)经准直的白光源，分束后经过待测光学间隔获得两个有相差的波阵面，然后使两束光发生干涉；(2)将彩色光电检测器阵列置于光路末端，使干涉条纹投射在光电检测器阵列上；(3)将彩色光电检测器阵列输出的电信号送至彩色图象处理卡，根据彩色图象卡的输出信号用色彩识别的办法确定零级。
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