[发明专利]薄层调频分析技术无效
| 申请号： | 93116731.0 | 申请日： | 1993-08-20 |
| 公开（公告）号： | CN1099142A | 公开（公告）日： | 1995-02-22 |
| 发明（设计）人： | 张双喜 | 申请（专利权）人： | 地质矿产部西北石油地质局;中国地质大学(武汉) |
| 主分类号： | G01V1/30 | 分类号： | G01V1/30 |
| 代理公司： | 中国地质大学(武汉)专利事务所 | 代理人： | 吕建军,任有福 |
| 地址： | 830011 新疆维*** | 国省代码： | 新疆;65 |
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| 摘要： | 一种薄层调频分析技术，是地震勘探中识别薄层的分析方法，从分析反射系数出发，建立调频母函数h(f)＝N、T分别为薄层系数和总厚度，R为薄层系边界反射系数，r为薄层系内部反射系数。以频率为X轴，以强度为Y轴作频谱图，得到薄层的调频特征为光栅效应，次光栅越多，薄层层数越多，层数等于次光栅数加2，从而判断薄层系的存在性质。 | ||
| 搜索关键词： | 薄层 调频 分析 技术 | ||
【主权项】：
1、一种薄层调频分析技术，是地震勘探中识别薄层的分析方法，设薄层系层数N，薄层系总厚度T以及薄层系边界反射系数值R，薄层系内部反射系值r四个参数，其特征是：建立调频函数h(f)h(f)=Σk=0N(-1)k+1(1-r2)ke-j2πfvTN+[R-rr][1+(-1)N-1e-j2πfv·TN以频率为X轴，以地层反射强度为Y轴绘制频谱图，它具有光效应，谱图中峰顶为光栅中心，次光栅越多薄层系薄层层数越多，薄层层数等于次光栅数加2。
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