[发明专利]测量具有显微成象光路的光学仪器曝光时间的方法和装置无效

专利信息
申请号: 93117848.7 申请日: 1993-09-18
公开(公告)号: CN1043926C 公开(公告)日: 1999-06-30
发明(设计)人: L·雷马;M·吉尔伯特;F·赫尔曼 申请(专利权)人: 莱卡显微及系统有限公司
主分类号: G01J1/04 分类号: G01J1/04;G01J1/42;G02B21/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 董巍,肖掬昌
地址: 联邦德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 根据本发明方法,一配置在测量光路(M)上的具有多个分立测量光阑(2,3)的测量光阑板(4)以及一配置在入射光路(E)上位于标线板(7)附近的具有多个分立遮蔽图形(12,13)的遮蔽板(11)同步运行,因而在测量光路(M)上的测量光阑(2或3)经入射光路(E)借助配属的遮蔽图形(12或13)和具有测量光阑(2,3)轮廓的标线板(7),同时在观察光路(B)上的目镜中间象面(19)上显示出。
搜索关键词: 测量 具有 显微 成象 光学仪器 曝光 时间 方法 装置
【主权项】:
1.用于测量光学仪器的曝光时间的方法,该光学仪器具有一显微镜成象光路、一观察光路、一测量光路、一入射光路和一个棱镜系统(P),其特征在于:一个配置在测量光路(M)上的含有多个分立测量光阑(2,3)的测量光阑板(4)和一个配置在入射光路(E)上位于标线板(7)附近的含有多个分立遮蔽图形(12,13)的遮蔽板(11),测量光阑板(4)被电机(6)和旋转轴(5)可移动地支撑,遮蔽板(11)被电机(15)和旋转轴(14)可移动地支撑,测量光阑板(4)和遮蔽板(11)可同步旋转,通过棱镜系统(P)的多个透射、反射作用,位于测量光路(M)上的测量光阑(2)或(3)经入射光路(E)借助所属的遮蔽图形(12或13)和具有测量光阑(2,3)的轮廓或轮廓部分被反向投射到标线板(7)上,同时显示在观察光路(B)上的目镜中间象面(19)上。
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