[发明专利]确定纱表面范围结构的方法和装置无效
| 申请号： | 94103558.1 | 申请日： | 1994-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN1043080C | 公开（公告）日： | 1999-04-21 |
| 发明（设计）人： | Ｒ·亨塞尔;Ｈ·旺普弗勒;Ｐ·赛兹 | 申请（专利权）人： | 泽韦格乌斯特有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/36 | 分类号： | G01N33/36 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 赵辛 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 纱Ｇ的表面在有多个不同结构型式的传感元件的传感器（７）上成象。单个的传感元件的信号彼此进行比较，而待测的纱表面的结构通过跟相应的传感元件的一致性来确定。待测的结构通过实际的纱表面和包括伸出的纤维及可能的夹杂物在内的纱边缘两者所组成。夹杂物也包括杂质、特别是那些由外来纤维引起的杂质。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 表面 范围 结构 方法 装置 | ||
【主权项】：
1．一种用于确定纱表面范围的结构的方法，包含以下的步骤：(a)产生一个纱表面的成象；(b)提供至少一个代表待测表面的典型结构型式的成象；(c)将该纱表面的成象跟代表典型结构型式的成象进行比较；(d)在所述进行比较的成象之间建立相互关系；(e)导出一个确定或代表该纱的表面结构的相关信号。
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