[发明专利]电子元器件防静电损伤的抗静电膜制备工艺无效

专利信息
申请号: 94106140.X 申请日: 1994-06-14
公开(公告)号: CN1099546A 公开(公告)日: 1995-03-01
发明(设计)人: 刘庆祥 申请(专利权)人: 电子工业部第十三研究所
主分类号: H05F1/02 分类号: H05F1/02;C09K3/16;H05K9/00
代理公司: 石家庄市专利事务所 代理人: 田文其
地址: 050051*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 一种电子元器件防静电损伤的抗静电膜制备工艺,它包括抗静电膜材料的制备和在电子元器件上涂布、固化等工序,制备的导电型抗静电膜能将电子元器件静电敏感通道的两极短路;而制备的绝缘型抗静电膜的作用是隔绝静电保护电子元器件免遭外界静电的损伤,该电子元器件防静电之措施不仅抗静电膜的制备工艺简单、易掌握,而且抗静电膜的去除还容易、绝缘型抗电膜还具有不影响焊接之优点。
搜索关键词: 电子元器件 静电 损伤 抗静电 制备 工艺
【主权项】:
1、一种电子元器件防静电损伤的抗静电膜制备工艺,其特征在于:它包括抗静电膜材料的制备和在电子元器件上涂布、固化等工序。
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