[发明专利]半导体非易失性存储器件无效

专利信息
申请号: 94106214.7 申请日: 1994-06-01
公开(公告)号: CN1087474C 公开(公告)日: 2002-07-10
发明(设计)人: 田中利广;加藤正高;佐佐木敏夫;久米均;小谷博昭;古泽和则 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: G11C16/06 分类号: G11C16/06
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王以平
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种半导体非易失性存储器件,其中存储单元的状态相对于器件中的每一个数据线来确定,以便自动控制编程的继续和暂停等。器件包括设置为阵列形式的非易失性半导体存储单元阵列、与多个存储单元组的控制栅共接的字线W1和W2及多个存储单元的漏极共接其上的数据线,各数据线都具有预充电电路、带有读出放大器和数据锁存器功能的数据保持电路和状态探测电路。再编程相对于连接到同一字线的所有存储单元(区段)同时进行。
搜索关键词: 半导体 非易失性存储器
【主权项】:
1.一种半导体非易失性存储器件,它具有:多个字线;多个与上述多个字线相交的数据线;多个与上述多个字线相交的源极线;以及,多个非易失性半导体存储单元,其中每个都包括一个控制栅、一个浮栅、一个连接于上述多个源极线之一的源极、以及一个连接于上述多个数据线之一的漏极;其特征在于包括:多个预充电电路,每一个都连接于上述多个数据线的一个数据线;多个状态探测电路,每一个都连接于上述多个数据线的一个数据线;以及多个连接于上述多个数据线的每个数据线的数据保持电路;以及在用来从外部将数据装入上述多个存储单元的编程操作中,上述多个数据保持电路存储加于上述存储器件的数据并在预定的时间内把所述加于上述待编程的存储器件的数据装入与上述多个字线中被选定的字线相连的多个存储单元;在上述选定的字线被改为非选定之后,上述多个预充电电路根据保持在上述多个数据保持电路中的数据,将上述多个数据线预充电到某一电压;通过其后重新选定所述被选定的字线,根据已在连接于被重新选定的字线的上述多个存储单元中的编程的数据对存储在上述多个数据保持电路中的数据进行再编程;上述状态探测电路对存储在上述多个数据保持电路中的再编程数据进行比较;以及当存储在上述多个数据保持电路中的再编程数据互不相同时,存储在上述多个数据保持电路中的上述再编程过的数据再次在预定时间周期内在上述多个连接于上述重新选定的字线的存储单元中被重新编程。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立制作所,未经株式会社日立制作所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/94106214.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top