[发明专利]微区X射线荧光黄金首饰分析装置无效
| 申请号： | 94112117.8 | 申请日： | 1994-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN1038874C | 公开（公告）日： | 1998-06-24 |
| 发明（设计）人： | 朱节清;乐安全;谷英梅;陆荣荣;吴国栋 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海原子核研究所 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 上海华东专利事务所 | 代理人： | 谢晋光,沈能一 |
| 地址： | 201800 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种微区Ｘ射线荧光黄金首饰分析装置，包括检测样品荧光成分依次成电路联结的探测器（７）、前置放大器（８）、主放大器（９）、脉冲模数变换器（１０）和微机（１３）、和依次以光路联结的初级Ｘ射线发生器（１）、光阑孔（３）和４５°反射镜（４），以及观察样品（６）的显微装置（５）、置放样品（６）的显微装置（１１）。本发明由于采用微束Ｘ射线去激发黄金首饰散射特征元素荧光，从而达到快速，简便对黄金首饰进行精确可靠、非破坏性的测量目的。 | ||
| 搜索关键词： | 微区 射线 荧光 黄金首饰 分析 装置 | ||
【主权项】：
1.一种微区X射线荧光黄金首饰分析装置，包括被检测样品(6)、测量被激发元素的荧光的探测器(7)、后接该探测器(7)并依次成电路联结的前置放大器(8)、主放大器(9)、脉冲模数变换器(10)和微机(13)、以及置放样品(6)的三维可调平台(11)，其特征在于还有初级X射线发生器(1)、位于紧靠该发生器(1)的出口处的光阑孔(3)、处于光阑孔(3)与样品(6)之间并成光路联结的45°反射镜(4)、经由该反射镜(4)观察样品(6)的显微装置(5)。
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