[发明专利]激光粒度仪专用标准粒子样板制备方法无效
申请号: | 94114047.4 | 申请日: | 1994-12-15 |
公开(公告)号: | CN1042856C | 公开(公告)日: | 1999-04-07 |
发明(设计)人: | 应萱同 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | G01B11/08 | 分类号: | G01B11/08 |
代理公司: | 复旦大学专利事务所 | 代理人: | 陆飞 |
地址: | 20043*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明是一种新颖的激光粒度仪专用标准粒子版制备方法,光路设计独特,用高分辨率激光束直接扫描照相底版,采用计算机控制整个系统,既有效地利用激光的高单色、高亮度特性,消除成象色差,缩短曝光时间;又克服激光散斑效应和普通扫描成象光路中的色差、象差、畸变,可高保真地摄制大量随机分布微小物体。本发明成象精度好,自动化程度高,制作工艺简单,生产周期短,投资少,可广泛应用于各种高精度微象摄影制版领域。 | ||
搜索关键词: | 激光 粒度 专用 标准 粒子 样板 制备 方法 | ||
【主权项】:
1、一种制备激光粒度仪专用的标准粒子样板的方法,使用了激光扫描,物孔成象工艺,并由微机控制操作过程,其特征在于:(1)用高分辨率激光直接扫描照相底版;(2)在系统光路中设置了消激光相干性装置;(3)照相底版根据粒子分布的要求在扫描控制装置驱动下作二维移动,使激光成象光束始终处于系统光路中心,以实现激光束对照相底版的二维扫描。
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