[发明专利]用于分析熔融金属成分的探测元件在审
申请号: | 94191158.6 | 申请日: | 1994-01-11 |
公开(公告)号: | CN1117762A | 公开(公告)日: | 1996-02-28 |
发明(设计)人: | 林恩·霍尔特;马克·A·斯韦特南;斯蒂芬·R·威特克 | 申请(专利权)人: | 库克森集团公司 |
主分类号: | G01N27/411 | 分类号: | G01N27/411 |
代理公司: | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人: | 马涛 |
地址: | 英国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种用于测试熔融金属或合金中的微量元素的探测元件,包括氧化锆韧化锶β-氧化铝固态电解质。本发明的该探测元件大大地改善了其热冲击特性。 | ||
搜索关键词: | 用于 分析 熔融 金属 成分 探测 元件 | ||
【主权项】:
1、用于测试熔融金属或合金中微量元素的探测元件,包括氧化锆韧化锶β-氧化铝固态电解质。
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