[发明专利]将成像器件中干涉条纹减至最小的层成像叠片无效

专利信息
申请号: 94191609.X 申请日: 1994-02-02
公开(公告)号: CN1120370A 公开(公告)日: 1996-04-10
发明(设计)人: B·迪桑那亚卡 申请(专利权)人: 明尼苏达矿产制造公司
主分类号: G02B1/10 分类号: G02B1/10;G01T1/20
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 马铁良,萧掬昌
地址: 美国明*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种将成像器件中的干涉条纹减至最小的分层成像叠片。一聚合物层(34)带有一个平坦表面和一个与之相对的第二表面;第二表面的粗糙度RA在0.5μm至2.5μm范围内。在该粗糙表面上提供一其折射系数n2与聚合物层折射系数n1不同的粘合剂层(36)。RA(单位为μm)与n2-n1的绝对值Δn的乘积是在约0.01至0.05的范围内。
搜索关键词: 成像 器件 干涉 条纹 减至 最小
【主权项】:
1.一种将成像器件中的干涉条纹减至最小的分层成像叠片(30),包括:其折射系数为n1的聚合物层(34),它带有基本为平面的第一主表面,以及与之相对的表面粗糙度为RA的第二主表面;和提供在该聚合物层的第二表面上的聚合涂层(36),该涂层折射系数为n2,厚度小于50μm,其中RA与Δn为n2-n1的绝对值,RA的单位μm。
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