[发明专利]集成电路处理装置的器件传送装置和器件再检查方法无效
| 申请号： | 95117239.5 | 申请日： | 1995-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN1152754A | 公开（公告）日： | 1997-06-25 |
| 发明（设计）人： | 中村浩人;小林义仁 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G06K19/00 | 分类号： | G06K19/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 马浩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种可以连同使用托盘形盒或杆状盒的IC传送系统器件的再检查方法。为此，托盘供给部分把用户托盘(170)传送到试验托盘(180)，而盒供给部分(152)和选择运送部分(112)把杆状盒(150)传送给试验托盘。再检验设定步骤设定再检查数量，检验结果分类，以及存储托盘/盒。DUT从盒被装到试验托盘中并被进行试验。在试验之后，进行关于再检验方式是否有效的判断。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 处理 装置 器件 传送 检查 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于IC处理装置的器件传送装置，它把要被传送的器件从一个用户侧的器件存储容器供给到所述IC处理装置内部的一个传送试验托盘(180)，包括：一个供给托盘传送机构(174)和一个托盘转换传送机构(175)，用来把一个用户托盘(170)传送到一个托盘转换部分(173)并把器件传送给试验托盘(180)，其作为第一器件供给侧；一个选择运送部分(112)，用来把器件从一个传送一个杆状盒(150)的供给盒传送机构(154)传送到一个试验托盘传送部分(114)，其作为第二器件供给侧；所述试验托盘传送部分(114)用来把器件从所述选择运送部分(112)传送到一个托盘转换部分(173)，并然后传送到试验托盘(180)；其特征在于，所述器件传送装置可以适用于托盘形盒和杆状盒的容器构形。
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