[发明专利]单晶硅上大面积(100)取向的金刚石膜的生长方法无效

专利信息
申请号: 95119376.7 申请日: 1995-12-12
公开(公告)号: CN1039595C 公开(公告)日: 1998-08-26
发明(设计)人: 顾长志;金曾孙 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: C23C16/26 分类号: C23C16/26
代理公司: 吉林大学专利事务所 代理人: 王恩远
地址: 130023 *** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 在单晶硅上大面积(100)取向金刚石膜的生长方法,是将单晶硅衬底在金刚石粉中研磨产生划痕,以H2、CH4、CO为反应气体,采用微波制膜技术,控制系统压力30~45torr范围,严格控制衬底温度在870~~890℃范围,并使衬底以0.2~1转/分的转速匀速转动,可制备大面积均匀生长的(100)取向的金刚石膜。本发明具有工艺简单、设备少、对衬底的解理面要求宽松、生长速度快,生长面积大等特点,适于生产。
搜索关键词: 单晶硅 大面积 100 取向 金刚石 生长 方法
【主权项】:
1.一种在单晶硅上大面积(100)取向金刚石膜的生长方法,以单晶硅为衬底,以H2、CH4为反应气体,采用微波制备金刚石膜技术,制备(100)取向金刚石膜,其特征在于,单晶硅衬底为任意解理面,并在金刚石粉中正反两面研磨形成均匀划痕;在制备中反应气体还包括有CO,三种反应气体的流量大小满足H2∶CH4∶CO=100∶(0.5~1.5)∶(3~6);衬底温度控制在870~890℃范围,压力控制在30~45torr范围,衬底旋转,转速控制在0.2~1转/分。
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