[发明专利]用分布式传感器探测和/或测量物理量的方法

摘要

本发明涉及一种用分布式传感器探测和/或测量物理量在传感器的多个测量点处的变化的方法。传感器有一条光纤,光纤中有一个传导光波的光学芯,它具有众多沿光纤分布并各自位于一个测量点水平处的衍射光栅,衍射光栅在无应力作用情况下具有基本相同的反射中心波长,它包括下述步骤从光纤的输入端射入一个探测光信号,其波长接近反射中心波长;确定随时间变化的反射光信号的功率,称为实测反射功率;将随时间变化的实测反射功率与物理量未发生变化时的随时间变化的反射功率(空载反射功率)进行比较;当实测反射功率与空载反射功率不同时,则探测到物理量的变化。

主权项

1.用分布式传感器探测和/或测量一个物理量在所述传感器的多个测量点处的变化的方法，所述传感器有一条光纤，光纤有一个传导大部分光波的光学芯，所述光学芯具有众多沿着所述光纤分布并各自位于一个所述测量点水平处的衍射光栅，所述衍射光栅在无应力作用的情况下具有基本相同的反射中心波长，其特征在于，它包括下述步骤：-从光纤的称为输入端的一端射入一个探测光信号，其波长接近所述的反射中心波长，-确定随时间变化的反射光信号的功率，称为实测反射功率，-将随时间变化的实测反射功率与所述物理量未发生变化时的随时间变化的反射功率，即空载反射功率，进行比较，-当所述实测反射功率与所述空载反射功率不同时，则探测到所述物理量的变化。