[发明专利]半导体集成电路器件无效
| 申请号： | 95119741.X | 申请日： | 1995-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN1067795C | 公开（公告）日： | 2001-06-27 |
| 发明（设计）人： | 前野秀史 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种半导体集成电路器件，易于发现故障出自Ｘ译码器还是出自Ｙ译码器。分别对应于存储器电路（２１）的Ｘ译码器（３２）和Ｙ译码器（３３）来设置产生全循环序列的电路（３６）和（３８）。特定状态检测电路（３７）检测产生全循环序列的电路（３６），从而可在完全改变Ｘ地址和Ｙ地址中的一个地址后再改变Ｘ地址和Ｙ地址中的另一个地址。由于知道故障发生的时间，所以容易发现Ｘ译码器和Ｙ译码器中的哪一个译码器出了故障。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 集成电路 器件 | ||
【主权项】：
1．一种半导体集成电路器件，包括：一个存储器电路，它包括多个存储单元、一个用于指定所说存储单元的X地址的X译码器、和一个用于指定所说存储单元的Y地址的Y译码器；以及一个地址产生电路，用于产生所说X译码器和所说Y译码器的地址，其特征在于，所说地址产生电路包括：一个产生全循环序列的第一电路，用于产生所说X译码器和所说Y译码器之一的一个地址的所有的值，同时用于顺序地、周期性地、有规则地改变所说地址的值；一个产生全循环序列的第二电路，用于产生所说X译码器和所说Y译码器中的另一个译码器的一个地址的所有的值，同时用于顺序地、周期性地、有规则地改变所说地址的值；以及一个特定状态检测电路，用于检测所说产生全循环序列的第一电路中一个特定的地址状态，并且用于在所说产生全循环序列的第一电路处在除所说特定的地址状态以外的状态时使所说产生全循环序列的第二电路不可操作。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三菱电机株式会社，未经三菱电机株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/95119741.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
