[发明专利]具有抑制故障存储单元漏电流冗余功能的半导体存储器件无效

专利信息
申请号: 95120110.7 申请日: 1995-12-27
公开(公告)号: CN1135644A 公开(公告)日: 1996-11-13
发明(设计)人: 筑出正树;有本和民 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: G11C11/401 分类号: G11C11/401;G11C29/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 杜日新
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在读/写操作中,用备用位线对组(100)替换了包括有故障存储单元(200)的位线对组(100)。对每个位线对组,通过互连VBL接地影响对位线均衡电路(14)的预充电电位的供给和读出放大器的电源的互连(S2P、S2N)。在位线对组的替换中,由熔丝元件(28)切断,对位线对组(100)的预充电电位的供给。
搜索关键词: 具有 抑制 故障 存储 单元 漏电 冗余 功能 半导体 器件
【主权项】:
1.一种半导体存储器件,包括以一定数量的存储单元列或存储单元行作为一个存储单元,执行信息读出/写入的有许多存储单元的存储阵列,其中在上述存储单元阵列中,许多上述读/写单元形成通常的存储单元阵列,并且在上述存储单元阵列中,至少有一个所述读/写单元形成一个备用存储单元阵列,当上述通常存储单元含有故障存储单元时,替换有关读/写单元,上述半导体存储器件包括:根据上述信息的第一逻辑电平,提供第一电位的第一电源,根据上述信息的第二逻辑电平,提供第二电位的第二电源,许多的位线,每个都连接到至少一个上述存储单元;许多的读出放大器,每个都连接到所述位线,以便根据上述存储单元的存储信息,来提供第一个电位和第二个电位中的一个,其中上述读出放大器包括:供给第一电位的第一电源输入节点,供给第二电位的第二电源输入节点,上述半导体存储器件还包括:供给第三电位的第三电源,把上述第三电位供给上述存储单元阵列的每个读/写单元的许多电源互连,对应外部控制信号的许多第一开关装置,用于打开/关闭由上述许多的电源互连供给第三电位的每个上述位线、每个上述第一和第二电源输入节点、上述读出放大器的连接,许多的第二开关装置,可以分别以非易失方式设置上述许多电源互连和对应的上述许多读/写单元之间的连接。
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