[发明专利]半导体装置无效
申请号: | 95190765.4 | 申请日: | 1995-08-15 |
公开(公告)号: | CN1063579C | 公开(公告)日: | 2001-03-21 |
发明(设计)人: | 石田芳弘;大森义信;池田家信;寺嶋一彦;丰田刚士 | 申请(专利权)人: | 西铁城时计株式会社 |
主分类号: | H01L21/52 | 分类号: | H01L21/52;H01L21/58 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 杜日新 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 在将IC芯片(8)安装于电路基板(7)上,且用密封树脂(11)封装的半导体吉,在电路基板(7)与IC芯片(8)的角部A对应的位置上形成角部保护膜(6a、6b、6c、6d),再用管芯粘结剂(9)将IC芯片(8)的角部A粘结于角部的保护膜上。另外,使管芯图形(3a)在上述角部保护膜的外侧露出,再形成包围其四周的电源图形(3b),用键合引线(10)将IC芯片(8)的电源端子与这些管芯图形(3a)和电源图形(3b)连接起来。从而,提高了IC芯片角部的粘合力,以防止剥离,同时可自由进行多根用于供给电源的键合引线的键合。$#! | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置,包括:具有用于安置IC芯片在树脂基板上形成的管芯图形和用于连接所述IC芯片各电极在树脂基板上形成的连接电极的电路基板;和由树脂封装安置在该电路基板上的IC芯片;其特征在于所述管芯图形其外形大于所述IC芯片的外形,还包括,有机绝缘性膜,覆盖所述管芯图形上,其外形小于所述管芯图形,并且覆盖到相对于所述IC芯片角部分的电路基板上,在其上管芯键合焊接,所述IC芯片的电源键合引线,与从所述管芯图形的所述有机绝缘性膜露出的部分连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造