[发明专利]半导体装置无效

专利信息
申请号: 95190765.4 申请日: 1995-08-15
公开(公告)号: CN1063579C 公开(公告)日: 2001-03-21
发明(设计)人: 石田芳弘;大森义信;池田家信;寺嶋一彦;丰田刚士 申请(专利权)人: 西铁城时计株式会社
主分类号: H01L21/52 分类号: H01L21/52;H01L21/58
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 杜日新
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在将IC芯片(8)安装于电路基板(7)上,且用密封树脂(11)封装的半导体吉,在电路基板(7)与IC芯片(8)的角部A对应的位置上形成角部保护膜(6a、6b、6c、6d),再用管芯粘结剂(9)将IC芯片(8)的角部A粘结于角部的保护膜上。另外,使管芯图形(3a)在上述角部保护膜的外侧露出,再形成包围其四周的电源图形(3b),用键合引线(10)将IC芯片(8)的电源端子与这些管芯图形(3a)和电源图形(3b)连接起来。从而,提高了IC芯片角部的粘合力,以防止剥离,同时可自由进行多根用于供给电源的键合引线的键合。$#!
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
1.一种半导体装置,包括:具有用于安置IC芯片在树脂基板上形成的管芯图形和用于连接所述IC芯片各电极在树脂基板上形成的连接电极的电路基板;和由树脂封装安置在该电路基板上的IC芯片;其特征在于所述管芯图形其外形大于所述IC芯片的外形,还包括,有机绝缘性膜,覆盖所述管芯图形上,其外形小于所述管芯图形,并且覆盖到相对于所述IC芯片角部分的电路基板上,在其上管芯键合焊接,所述IC芯片的电源键合引线,与从所述管芯图形的所述有机绝缘性膜露出的部分连接。
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