[发明专利]层析X射线照相装置的模式化检测装置在审
申请号: | 95191474.X | 申请日: | 1995-02-03 |
公开(公告)号: | CN1139872A | 公开(公告)日: | 1997-01-08 |
发明(设计)人: | 约翰·多布斯;戴维·班克斯 | 申请(专利权)人: | 模拟公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 邵伟 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 由若干检测器预先装配成的检测模件(24)和由若干防散射板(22)预先装配成的防散射模件(26)装在一梁(28)上,该梁用可调节的端部支撑件装到CAT扫描器的转台上。插入在该梁上精确钻成的基准孔中一对暗销(60A和60C)用来调节每一模件的位置和校直,一暗销穿过模件的一圆孔(80),另一暗销穿过模件的一槽(84)。模件的该孔、该槽以及与梁接靠的基准面的尺寸精度须极高,以便减小偏差积累。这样模件就便于用标准车床制造、便于装配和固一到层析照相装置的转台上。 | ||
搜索关键词: | 层析 射线 照相 装置 模式 检测 | ||
【主权项】:
1、与一X射线装置中的一X射线源一起使用的X射线检测组件的模式化装置,所述装置包括:至少一个检测模件,所述检测模件包括一基准面和一个和多个相对固定在所述基准面上、用来检测所述X射线源发出的X射线的检测器;至少一个防散射模件,所述防散射模件包括第二基准面和相对固定在所述第二基准面上、用来减少所述检测器接收到的散射X射线的部件;可接到所述X射线装置上、用来支撑所述检测和防散射模件的底座件,它有一基准面并包括把所有所述模件以精确位置固定到所述底座件上的定位部件,从而所有模件的基准面与该底座件的基准面相互抵靠;当所述模件和底座件紧固到所述X射线装置上时,检测模件和防散射模件相对所述X射线源获得精确定位。
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